• 網站導航

    其他儀器與工具

    當前位置:網站首頁 > 產品展示 > 其他儀器與工具 >

    布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀

    產品簡介:

    布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質,與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于...

    關注領取禮品

    詳細介紹
    布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質,與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于這些應用程序,生長晶體的質量就變得很重要。布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀用于檢測晶體和基質的處理。
    如果您需要布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器,均可聯絡我司銷售部門:0731-84284278 84284378。
    產品咨詢

    留言框

    • 咨詢內容:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯系電話:

    關鍵詞:半導體計量儀,JV-QCRT,布魯克Bruker
    推薦產品

    如果您有任何問題,請跟我們聯系!

    聯系我們

    Copyright © 2010-2022 儀器儀表信息網 www.lospinostempranillo.com.長沙艾克賽普儀器設備有限公司-創新測控:知其新,創其妙! 備案號:湘ICP備13003126號-1 XML地圖

    地址:湖南省長沙市開福區湘域智慧南棟611

    聯系方式 二維碼

    服務熱線

    0731-84284278

    掃一掃,關注我們

    大众彩票用户登录入口