• 網站導航

    其他儀器與工具

    當前位置:網站首頁 > 產品展示 > 其他儀器與工具 >

    秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡

    產品簡介:

    秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款獨特的能實現綜合性能的一體化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡具備了各種強大的應用功能,如快捷的微納米FIB加工,超高分辨率可靠分析或復雜的3D重構分析等。TESCAN不僅提供秦思肯 XEIA3...

    關注領取禮品

    詳細介紹
    秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款獨特的能實現綜合性能的一體化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡具備了各種強大的應用功能,如快捷的微納米FIB加工,超高分辨率可靠分析或復雜的3D重構分析等。TESCAN不僅提供秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡這類最新型的儀器設備,也同時致力于推動科學研究的前沿發展。TESCAN的定制系統能滿足各類客戶的具體需求,從材料科學到生命科學,從材料工程到半導體行業,TESCAN的設備一直都表現出高性能的特點。
    以下是艾克賽普為您介紹秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡的主要特點,如有相關問題,請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.lospinostempranillo.com,聯系電話:0731-84284278 84284378。
    秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡主要特點:新開發的配備TriglavTM物鏡及先進探測系統的高分辨掃描電子顯微鏡;獨特的無交叉模式及超高分辨率物鏡的組合,以獲得良好的成像模式先進可變的探測系統能同時獲得各種信號;超高納米分辨率:0.7nm@15keV;極限分辨率:1nm@1keV;角度選擇BSE探測器能在低束能下獲得最優的形貌及元素襯度;實時電子束追蹤技術TM能優化電子束性能;傳統的TESCAN大視野光學器件™設計提供各種工作和顯示模式;EquiPower™提供了優秀的電子束穩定性;新的肖特基場發射電子槍能使電子束流達到400nA以及實現電子束能量的快速改變;最新的探測技術可應用于先進的失效分析過程中;易損生物樣品的成像;磁性樣品的成像;優化的幾何鏡筒分布能夠獲得8’’晶圓分析手段(SEM探測,FIB微加工);3D電子束技術獨特的立體成像;友好的用戶界面,成熟的軟件模塊和自動化程序
    如果您需要秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器,均可聯絡我司銷售部門:0731-84284278 84284378。
    產品咨詢

    留言框

    • 咨詢內容:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯系電話:

    關鍵詞:高分辨掃描電子顯微鏡,XEIA3 model 2016,秦思
    推薦產品

    如果您有任何問題,請跟我們聯系!

    聯系我們

    Copyright © 2010-2022 儀器儀表信息網 www.lospinostempranillo.com.長沙艾克賽普儀器設備有限公司-創新測控:知其新,創其妙! 備案號:湘ICP備13003126號-1 XML地圖

    地址:湖南省長沙市開福區湘域智慧南棟611

    聯系方式 二維碼

    服務熱線

    0731-84284278

    掃一掃,關注我們

    大众彩票用户登录入口